WDW-20 मायक्रो कॉम्प्युटर नियंत्रित इलेक्ट्रॉनिक युनिव्हर्सल टेस्टिंग मशीन

मानक मॉडेल	रुंद केलेले मॉडेल

1. उपकरणे वापरणे:

चाचणी मशीन हे तन्य, कम्प्रेशन, बेंडिंग, कातरणे, स्ट्रिपिंग, फाडणे आणि धातू आणि नॉन-मेटल सामग्रीच्या इतर चाचण्यांसाठी योग्य आहे, जसे की: रबर, प्लास्टिक, वायर आणि केबल, संमिश्र साहित्य, प्लास्टिक प्रोफाइल , मेटल बार, प्लेट्स, स्प्रिंग्स, घटक इ. GB, ISO, JIS, DIN, ASTM आणि इतर चाचणी मानकांची अंमलबजावणी केली जाऊ शकते आणि वापरकर्त्याच्या गरजेनुसार चाचणी सॉफ्टवेअर संपादित केले जाऊ शकते. गुणवत्ता तपासणी युनिट्स, वैज्ञानिक संशोधन विभाग, महाविद्यालये आणि विद्यापीठे, औद्योगिक आणि खाण उद्योगांसाठी हे आवश्यक चाचणी साधन आहे.

2. मापन मापदंड:

1. कमाल चाचणी बल: 10/20/30/50kN

2. चाचणी बल मापन श्रेणी: 0.4%--100%.

3. चाचणी बल संकेत अचूकता: ±1%

4. चाचणी सक्तीचे रिझोल्यूशन :1/500000

5. बीम विस्थापन मापन अचूकता: 0.0025 मिमी पेक्षा जास्त रिझोल्यूशन

6. विरूपण मापन अचूकता: ±0.5%

7. चाचणी गती श्रेणी: 0.0002-500mm /min, स्टेपलेस वेग नियमन

8. वेग नियंत्रण अचूकता :±1%(0.0002~50mm/min); अधिक किंवा उणे 0.5% (50 ~ 3500 मिमी/मिनिट)

9. स्थिर बल, स्थिर विकृती, स्थिर विस्थापन नियंत्रण श्रेणी: 0.2%-100%FS

10. स्थिर बल, स्थिर विकृती, स्थिर विस्थापन नियंत्रण अचूकता:

जेव्हा सेट मूल्य <10%FS असते, तेव्हा सेट मूल्य ±1.0% च्या आत असते

जेव्हा सेट मूल्य ≥10%FS असते, तेव्हा सेट मूल्य ±0.1% च्या आत असते

11. विरूपण दर नियंत्रण अचूकता: दर <0.05%FS ±2.0%

दर ≥0.05%FS ±0.5%

12. चाचणी जागा: A. स्ट्रेचिंग स्पेस : 1000mm B. कम्प्रेशन स्पेस : 1100mm C. रुंदी :450mm

13. लोअर टेबल: 450*250

14. प्रेशर डिस्क आकार: φ100 मिमी

15. वीज पुरवठा: सिंगल-फेज, 220V±10%,50Hz, पॉवर: 750W

16. कार्यरत वातावरण: खोलीचे तापमान -35 ℃, सापेक्ष आर्द्रता 80% पेक्षा जास्त नाही

17. होस्ट आकार: 870×730×1750mm

18. वजन: 400 किलो

3. उत्पादन कॉन्फिगरेशन:

1, होस्टचा संच

2, Panasonic A7 पूर्ण डिजिटल सर्वो मोटर आणि सर्वो ड्रायव्हर;

3, उच्च-परिशुद्धता लोड सेन्सर; एक 5kn/1kn/500N/200/ प्रत्येक

4, हिविन प्रिसिजन बॉल स्क्रू; 2

5, फोटोइलेक्ट्रिक एन्कोडर (2500 ओळी, अंगभूत); 1

6, फिक्स्चर: स्पंज/कार सीट आवश्यक टूलिंग 1 सेट पूर्ण करा (त्यात विविध आहेत)

7, तीन बंद-लूप मापन प्रणालीचा एक संच, बल, विस्थापन, ताण आणि इतर नियंत्रण पद्धती वापरून, चाचणी प्रक्रिया रिअल टाइम फोर्स-डिस्प्लेसमेंट, फोर्स-टाइम, ताण-ताण आणि इतर चाचणी वक्र, आणि स्वयंचलितपणे जास्तीत जास्त भार, तन्य शक्ती, ब्रेकच्या वेळी वाढवणे आणि इतर परिणाम पॅरामीटर्स प्राप्त करू शकतात.

8, HP ब्रँड संगणक, 21 इंच LCD मॉनिटर;

9, प्रिंटर: HPA4 कलर इंकजेट प्रिंटर;

10, विशेष चाचणी सॉफ्टवेअर: GB, ISO, JIS, DIN, ASTM आणि इतर चाचणी मानके पूर्ण करू शकतात, पूर्णपणे खुले, शक्तिशाली, ऑपरेट करण्यास सोपे, अपग्रेड सॉफ्टवेअर प्रदान करण्यासाठी विनामूल्य आणि त्यानुसार चाचणी सॉफ्टवेअर संपादित करू शकतात वापरकर्त्याच्या गरजांसाठी.

4. उत्पादन कार्ये आणि वैशिष्ट्ये:

1. होस्ट संगणक

1.1 पूर्ण डिजिटल एसी सर्वो मोटर आणि सर्वो ड्रायव्हर, वेगाचे प्रमाण 1:100,000 पर्यंत; सिस्टममध्ये उच्च नियंत्रण अचूकता, चांगली स्थिरता, स्थिर आणि विश्वासार्ह ऑपरेशन, जलद प्रतिसाद, कमी आवाज आणि ओव्हरलोड, ओव्हरकरंट, ओव्हरव्होल्टेज, अंडरव्होल्टेज, ओव्हरहाटिंग, असामान्य स्टॉप, फॉल्ट अलार्म आणि इतर संपूर्ण संरक्षण कार्ये आहेत आणि त्यानुसार पॅरामीटर्स समायोजित करू शकतात. विविध मॉडेल्स आणि चाचणी प्रकार, जेणेकरून सर्वो सिस्टम सर्वोत्तम स्थितीत चालते, सर्वो सिस्टम स्थिती नियंत्रण मोडचा वापर. स्पीड लूपमुळे होणारे शून्य प्रवाह आणि कमी गतीच्या अस्थिरतेवर मात करण्यासाठी इंटरफेस युनिट डिजीटल केले आहे.

1.2 प्रिसिजन लीड स्क्रू आणि अचूक डिलेरेशन मेकॅनिझम ड्राइव्ह, स्मूथ ट्रान्समिशन, कमी आवाज, कोणतेही अंतर नाही.

2. मापन आणि नियंत्रण प्रणाली, ऑपरेटिंग सॉफ्टवेअर आणि डेटा प्रोसेसिंग सिस्टम

सॉफ्टवेअर मुख्य इंटरफेस

टूल कॉलम

यामध्ये विविध मशीनच्या पर्यायांसह थेट सामान्य पर्याय समाविष्ट आहेत.

मानक/प्रोजेक्ट: चाचणी मानक निवडा.

नवीन: नवीन डेटा सेट करा.

उघडा: विशिष्ट विनंतीनुसार डेटा शोधा.

प्रिंट: साधे रिपोर्ट, बॅच प्रोसेस्ड रिपोर्ट, ऑफिस रिपोर्ट, गरजेनुसार निवडा.

जतन करा: वापरकर्त्याद्वारे कोणताही डेटा सुधारित करा.

साफ करा: पॅनेलचा सर्व डेटा साफ करणे शून्य.

विश्लेषण: हे मॅन्युअल विश्लेषण चाचणी परिणामांसाठी वापरले जाते.

पुन्हा करा: ही चाचणी रेकॉर्ड पुन्हा करा.

कॉन्फिग: फंक्शनल बटण सेट करा किंवा नाही.

मदत: सॉफ्टवेअरची साधी सूचना.

मजकूर: मूळ डेटा मजकूर फाइलवर नेणे (पर्यायी बंद).

एक्सेल: मूळ डेटा एक्सेल फाइलवर नेणे (पर्यायी बंद).

हटवा: हे रेकॉर्ड हटवा (हटवलेले रेकॉर्ड पुनर्प्राप्त करण्यात सक्षम आहे).

उच्च-परिशुद्धता डेटा संपादन बोर्ड (24-बिट A/D डेटा संपादन) पूर्ण डिजिटल समायोजन, उच्च-परिशुद्धता प्रवर्धन आणि अचूक नियंत्रण (कॉम्प्युटरमध्ये अंगभूत), प्रगत चिप एकत्रीकरण तंत्रज्ञान, उच्च-सुस्पष्टता प्राप्त करू शकते ± 300,000 कोड संपादन कार्ड, जेणेकरून सेन्सर मापन अचूकता टोकापर्यंत. यात उच्च एकात्मता, स्थिरता आणि विश्वासार्हता आणि वापरण्यास सुलभतेचे फायदे आहेत. नियंत्रण सॉफ्टवेअर आपोआप लवचिक मॉड्यूलस, उत्पन्न शक्ती, तन्य शक्ती, ब्रेकिंग स्ट्रेंथ आणि इतर पारंपारिक डेटा प्राप्त करू शकते आणि चाचणी प्रक्रियेतील कोणत्याही निर्दिष्ट बिंदूवर शक्ती, तणाव, विस्थापन, विकृती आणि इतर डेटा परिणामांची स्वयंचलितपणे गणना करू शकते.

2.1 स्वयंचलित शून्य साफ करणे: चाचणी सुरू झाल्यानंतर, मापन प्रणाली स्वयंचलितपणे शून्यावर समायोजित होते;

2.2 स्वयंचलित थांबा: नमुना तुटल्यानंतर, हलणारी बीम आपोआप थांबेल;

2.3 ऑटोमॅटिक कॅलिब्रेशन: सिस्टीम आपोआप मूल्य अचूकता दर्शविणारे कॅलिब्रेशन ओळखू शकते;

2.4 स्वयंचलित स्टोरेज: स्टोरेज विसरल्यामुळे होणारे डेटाचे नुकसान टाळण्यासाठी चाचणी डेटाचे स्वयंचलित स्टोरेज आणि चाचणी परिस्थिती;

2.5 स्वयंचलित गती बदल: चाचणी दरम्यान, बीमची हालचाल गती पूर्व-सेट प्रोग्रामनुसार स्वयंचलितपणे किंवा व्यक्तिचलितपणे बदलली जाऊ शकते;

2.6 स्वयंचलित नियंत्रण: चाचणी आवश्यकतांनुसार, चाचणी गती, विस्थापन, ताण आणि इतर बंद-लूप नियंत्रण मोड निवडले जाऊ शकतात;

2.7 प्रोग्राम नियंत्रण: वापरकर्ता मल्टी-स्टेप कंट्रोल प्रोग्राम गरजेनुसार आणि विशिष्ट प्रोग्रामिंग वैशिष्ट्यांनुसार सानुकूलित करू शकतो.

2.8 स्वयंचलित बचत: चाचणीनंतर, चाचणी डेटा आणि वक्र स्वयंचलितपणे जतन केले जातात;

2.9 बॅच चाचणी: समान पॅरामीटर्सच्या नमुन्यांसाठी, चाचणीची बॅच एका सेटिंगनंतर क्रमाने पूर्ण केली जाऊ शकते;

2.10 स्वयंचलित विश्लेषण: संबंधित मानक आवश्यकतांनुसार चाचणी डेटाचे स्वयंचलितपणे विश्लेषण करा.

2.11 वक्र ट्रॅव्हर्सल: चाचणी पूर्ण झाल्यानंतर, वक्र विश्लेषण केले जाऊ शकते आणि चाचणी वक्रवरील प्रत्येक बिंदूशी संबंधित डेटा माउसद्वारे शोधला जाऊ शकतो;

2.12 वक्र निवड: ताण-ताण, फोर्स-डिस्प्लेसमेंट, फोर्स-टाइम, डिस्प्ले आणि प्रिंटिंगच्या गरजेनुसार डिस्प्लेसमेंट-टाइम वक्र निवडले जाऊ शकतात; आणि ते तणावाच्या कृती अंतर्गत नमुन्याची अपयश प्रक्रिया आणि नमुन्याच्या प्रत्येक बिंदूचे डेटा विश्लेषण स्पष्टपणे प्रतिबिंबित करू शकते.

2.13 स्वयंचलित विश्लेषण: चाचणी वक्रचा कोणताही विभाग स्थानिक पातळीवर वाढविला जाऊ शकतो.

2.14 बॅच प्रोसेसिंग: एकाधिक चाचणी डेटा आणि वक्र सारांशित करा आणि त्यांची तुलना करा आणि ते प्रदर्शित करा आणि मुद्रित करा.

2.15 चाचणी अहवाल: एकाधिक अहवाल संपादन पद्धती (ExselWorld Advanced Customization), वापरकर्ते त्यांच्या गरजेनुसार अहवाल स्वरूप संपादित करू शकतात

2.16 मर्यादा संरक्षण: प्रोग्राम-नियंत्रित आणि यांत्रिक मर्यादा संरक्षणासह;

2.17 ओव्हरलोड संरक्षण: जेव्हा लोड रेट केलेले मूल्य 2% ~ 10% ओलांडते, तेव्हा स्वयंचलित थांबा;

2.18 LAN कनेक्शन: डेटा इंटरफेस राखून ठेवला जातो आणि प्रयोगशाळेच्या एकात्मिक माहिती व्यवस्थापन नेटवर्कशी थेट कनेक्ट केला जाऊ शकतो.